桂林光明科技研制出新型插回损仪

日期：2018-05-19  点击：2791

GM8019B+GM83001E双光源插回损仪是桂林光明科技最新研制的.可实现光器件回波损耗“免缠绕”测试的设备。该产品填补了国内市场和技术的空白，极大的提高了光器件回波损耗的测试效率，同时针对一些不能或不便于缠绕的光器件的回波损耗测试给出了良好的解决方案。